光背向反射计（OBR4600）在光器件、光系统的测试、诊断过程中，具有较好的优越性：无测试死区，空间分辨率10um，灵敏度-130dB，能够探测到极其微小的损耗变化（如弯曲、断裂、较差的熔接点等），能够对器件、系统内部的缺陷、故障进行诊断，使您及时发现问题，避免在器件终检测过程中才发现问题的困扰。
产品特性
- 分辨率高：空间分辨率高达10um，可分辨光学部件的精细结构；
- 灵敏度高：动态范围70 dB，灵敏度-130 dB；
- 测量范围长：有两种测量范围的仪器可供选择（30/70米、2000米）；
- 盲区小：盲区等于空间分辨率
- 通过单次扫描，即可快速测量器件或系统的插入损耗和回损；
- 损耗事件定位：可以通过监测背向散射来确定引起损耗的原因（弯曲、坏熔接点等）；
- 深入探测器件内部：使用强大的时域窗口来显示器件的内部特性；
应用范围
- 主要用于子系统生产和验证，包括光放大器模块、收发模块、放大器模块的光学子系统生产，发送/接受模块环路，激光器和调制器模块
- 单连接点光开关验证；组装和连接有效性和定位管理
- 全系统设计有效性验证和分析区别单个器件、连接头、光纤、熔接点和其他器件。
- 元器件资格检测：深入探测和快速测试单个光学元器件
- 光学系统和模块的研发和生产过程中故障定位
